SEMIKRON西门康三社SanRex整流桥模块 S1PDB122N14
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商品参数
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商品介绍
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型号 SKD210/16
批号 new
产地 德国
电压 1600
封装 国际封装
商品介绍
电阻测试法
电阻测试法是利用二极管的单向导通特性,测试其正向有电阻读值与反向截止无读值来判断其是否好坏,这套测量整流桥的好坏方法是很常见的一种。
测试方法与步骤为:红笔接整流桥负极,黑笔分别接两个交流脚位,若均有读值显示则说明负极与交流之间的两颗芯片正常;黑笔接整流桥正极,红笔分别探测两个交流脚位,若均有读值显示则表明整流桥正极与交流间的两颗芯片为正常。
测试结果总结:若测试过程中结果反馈如上所述,则表示该整流桥4颗芯片均正常,万用表读值为该测试芯片的内阻值;若出现非一致的情况,比如数值为1(无穷大)则说明整流桥中该颗芯片已经损坏。
SEMIKRON西门康三社SanRex整流桥模块,C3PDB200N18
整流桥的结构:
整流桥通常是由两只或四只整流硅芯片作桥式连接,两只的为半桥,四只的则称全桥。外部采用绝缘朔料封装而成,大功率整流桥在绝缘层外添加锌金属壳包封,增强散热性能。
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压降测试法
压降测试法是利用万用表二极管档位直接测试整流桥内部二极管芯片的方法,读值为压降的参考值或近似值。测试方法与电阻测试法大致类似,也是很常见的一种测量整流桥好坏的方法。
测试方法与步骤为:红笔接整流桥负极,黑笔接整流桥正极,此时测试结果为整个整流桥的压降参考值;如需分别测试每颗芯片的压降值,则方法为黑笔接整流桥正极,红笔分别探测两个交流脚位;红笔接整流桥负极,黑笔分别探测两个交流脚位,此时所测结果为内部独立二极管芯片的压降参数值。
测试结果总结:上述测试结果为该整流桥内部二极管芯片压降的参考值,有示数说明该芯片正常,可以辅助判断整流桥通断与好坏情况。如有非一致的情况出现,比如数值为1(无穷大)则说明整流桥中该颗芯片已经损坏。
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整流桥的损坏该怎么办?
1、整流模块损坏,通常是由于电网电压或内部短路引起。在排除内部短路情况下,更换整流桥。
2、逆变模块损坏,通常是由于电机或电缆损坏及驱动电路故障引起。
3、上电无显示,通常是由于开关电zd源损坏或软充电电路版损坏使直流电路无直流电引起
4、显示过电压或欠电压,通常由于输入缺相,电路老化及电路板受潮引起。
5、显示权过电流或接地短路通常是由于电流检测电路损坏。如霍尔元件、运放电路等。
6、电源与驱动板启动显示过电流。通常是由于驱动电路或逆变模块损坏引起。
7、空载输出电压正常,带载后显示过载或过电流。通常是由于参数设置不当或驱动电路老化,模块损坏引起过电流保护功能 。
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公司名称 上海秦邦电子科技有限公司
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地址 上海市